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簡(jiǎn)要描述:AT810D LCR測(cè)試儀數(shù)字電橋內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率,并且提供0.3V和1V測(cè)試電平,使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810D具有傻瓜式操作界面
2011年全新第五版,使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D,穩(wěn)定性更佳,全新按鍵設(shè)計(jì),操作更簡(jiǎn)單。
AT810D LCR測(cè)試儀數(shù)字電橋采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器*的技術(shù),使其性能亦無(wú)可挑剔。
AT810D LCR測(cè)試儀數(shù)字電橋內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率,并且提供0.3V和1V測(cè)試電平,使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
AT810D 使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810D具有傻瓜式操作界面。
技術(shù)規(guī)格 | |
測(cè)量參數(shù) | L,C,R,Z |
監(jiān)視參數(shù) | D,Q,θ(deg),θ(rad) |
基本準(zhǔn)確度 | 0.002 |
測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz |
顯示范圍 | L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF R,Z:0.0001Ω-99.99MΩW Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°° θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001~9.9999 |
輸出阻抗 | 30Ω,100Ω |
量程 | 6量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試 |
zui大讀數(shù) | 主參數(shù):99999 副參數(shù):99999 |
信號(hào)電平 | 0.3Vrms和1Vrms |
測(cè)試速度 | 2次/秒,5次/秒 |
比較器 | 5檔分選 P1,P2,P3,AUX,NG |
列表掃描 | 無(wú) |
校準(zhǔn) | 開路/短路點(diǎn)頻或掃頻清零 |
接口 | 無(wú)接口 |
其它 | VFD顯示,鍵盤鎖和數(shù)據(jù)保持功能 |
電源要求 | 電壓:198VAC~240VAC 頻率:50Hz 功率:zui大20VA |
尺寸與重量 | 264 (寬)x107(高)x350 (深) ,重量:4kg |
附件 | ATL501:測(cè)試電纜 ATL601: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片 |
性能特征 | |
● | 高亮度,超清晰四色VFD顯示。 |
● | 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。 |
● | 第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。 |
● | 1000V*沖擊保護(hù) |
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